Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит: систематическое сравнение Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках

Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА, и хочу поделиться темой, которая меня давно зацепила. Рано или поздно на это натыкается каждый, кто делает визуальный контроль на своих данных. Модель уверенно находит крупные детали, средняя метрика выглядит вполне достойно, а мелкие дефекты, ради которых всё и затевалось, она почти не видит. По общей цифре этого не понять. Ниже инженерный разбор: что проверялось, на каком протоколе, где легк

Первые 450 знаков материала. Читать далее у источника →